Terahertz-Scanner untersucht aktive Halbleiter kontaktlos from Heise's blog

Forscher bilden den p-n-Übergang von Halbleitern im Betrieb und durch das Gehäuse hindurch ab, bisher jedoch nur bei groben Strukturen.


Source: https://www.heise.de/news/Terahertz-Scanner-untersucht-aktive-Halbleiter-kontaktlos-11262760.html?wt_mc=rss.red.ho.ho.rdf.beitrag.beitrag


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By Heise
Added Apr 17, 04:19PM

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